在单片机开发过程中，我们总被代码的执行效率、单片机器件的性能、成本困扰着，以至于用很长时间思考这类问题，这是难以避免的，毕竟开发过程中的性价比、执行效率等因素都是十分重要的考量因素。为了让大家更高效率的开发，小编总结了几个技巧，帮助大家进阶，在优秀的开发者路上越走越远！
如何提高 C 的代码效率？
用 C 语言进行单片机程序设计是单片机开发与应用的必然趋势。如果使用 C 编程时，要达到最高的效率，最好熟悉所使用的 C 编译器。先试验一下每条 C 语言编译以后对应的汇编语言的语句行数，这样就可以很明确的知道效率。在今后编程的时候，使用编译效率最高的语句。
各种 C 编译器都会有一定的差异，故编译效率也会有所不同，优秀的嵌入式系统 C 编译器代码长度和执行时间仅比以汇编语言编写的同样功能程度长 5-20%。
虽然 C 语言是最普遍的一种高级语言，但由于不同的 MCU 厂家其 C 语言编译系统是有所差别的，特别是在一些特殊功能模块的操作上。所以如果对这些特性不了解，那么调试起来问题就会很多，反而导致执行效率低于汇编语言。
如何解决单片机的抗干扰性问题？
防止干扰最有效的方法是去除干扰源、隔断干扰路径，但往往很难做到，所以只能看单片机抗干扰能力够不够强了。单片机干扰最常见的现象就是 复位；至于程序跑飞，其实也可以用软件陷阱和看门狗将程序拉回到复位状态；所以单片机软件抗干扰最重要的是处理好复位状态。
一般单片机都会有一些标志寄存 器，可以用来判断复位原因；另外你也可以自己在 RAM 中埋一些标志。在每次程序复位时，通过判断这些标志，可以判断出不同的复位原因；还可以根据不同的标 志直接跳到相应的程序。这样可以使程序运行有连续性，用户在使用时也不会察觉到程序被重新复位过。
如何测试单片机系统的可靠性？
对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法，但是有一些是必须测试的：
测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试，测试软件是否写的正确完整。
上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况，可以进行多次开关电源，测试单片机系统的可靠性。
老化测试。测试长时间工作情况下，单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温，高压以及强电磁干扰的环境下测试。
ESD 和 EFT 等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电 ESD 能力；使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰 EFT 测试等等。
更多精彩，请使用维信扫描下方二维码免费领取！！！